O procedimento e o dispositivo propostos permitem a construção de sondas que podem ser utilizadas para procedimentos de microscopia de varredura por sonda (Scanning Probe Microscopy ou spm), incluindo seu acoplamento com sistemas ópticos, gerando as técnicas de microscopia óptica de varredura por sonda (Scanning Probe Optical Microscopy ou spom), como a microscopia óptica de campo próximo (Scanning Near-field Optical Microscopy ou snom) ou a espectroscopia raman por efeito de sonda (Tip Enhanced Raman Spectroscopy ou ters).