AUTOMAÇÃO DE PROCESSOS EM MICROSCOPIA DE VARREDURA POR SONDA
Automação de processos em microscopia de varredura por sonda e demais sistemas implementados por programa de computador
O que é?
Automação de processos em microscopia de varredura por sonda e demais sistemas implementados por programa de computador:
BR1020150112335: Método e equipamento de posicionamento automático para microscopia por varredura de sonda e espectroscopia óptica in situ;
BR5120170003971: HSPE Toolbox - Aprimoramento da versão original HSPE para análise espectral que inclui criação, edição e remoção de bandas espectrais;
BR5120200010270: ProbeMaster - Automação de varredura com a sonda para detecção de região de sinal ótimo;
BR5120200010261: FocusMaster - Automação do foco e seletor de portas ópticas do microscópio; Motorização do ajuste de intensidade luminosa através da utilização de filtros de densidade óptica; monitoramento de temperatura e umidade ambientes;
20210012: Software para controle de equipamento para espectroscopia óptica de campo próximo;
20210013: Software para análise flexível de dados gerados por equipamentos de caracterização espectral;
20210014: CRICT - Software embarcado para comunicação de dados, interface e controle de dispositivos periféricos para espectroscopia óptica de campo próximo;
20210015: CRICT - Design em Verilog/SystemVerilog para gerenciamento das malhas de controle e comunicação com os periféricos utilizados no equipamento para realização de scan AFM (Atomic Force Microscope), STM (Scanning Tunneling Microscope) e TERS (Tip-Enhanced Raman Scat.
Inventores
Ado Jorio de Vasconcelos / +.
Estágio de Desenvolvimento
Avançado (protótipo)
Vantagens
Método e equipamento capaz de posicionar automaticamente uma sonda usada para procedimentos de microscopia de varredura por sonda (Scanning Probe Microscopy), incluindo seu acoplamento com sistemas ópticos, como em microscopia óptica de campo próximo (Scanning Near-field Optical Microscopy) ou espectroscopia Raman por efeito de sonda (Tip Enhanced Raman Spectroscopy), que exigem que a mesma seja precisamente posicionada e manipulada.
Propriedade Intelectual
UFMG / INMETRO / IVISION SISTEMAS DE IMAGEM E VISÃO S.A
Objetivo da UFMG
Licenciamento ou acordo para desenvolvimento
