O que é?
Método e um equipamento capazes de posicionar automaticamente uma sonda usada para procedimentos de microscopia de varredura por sonda (Scanning Probe Microscopy ou SPM). Experimentos de microscopia de varredura são úteis em indústrias de manufatura de precisão, microeletrônica e biomédica, dentre outras áreas de ciência e tecnologia em que tal monitoramento resulta em uma melhora de qualidade e confiabilidade dos produtos.
Inventores
Ado Jorio de Vasconcelos, Laura Pinto Coelho Amorim, Hudson Luiz Silva de Miranda, Johnathan Mayke Melo Neto, Luiz Fernando Etrusco Moreira, Luiz Gustavo Cançado , Cassiano Rabelo e Silva.
Estágio de Desenvolvimento
Avançado (protótipo)
Vantagens
-Descarta a necessidade da presença de um especialista dedicado e as desvantagens associadas ao posicionamento manual.
-Propicia maior repetibilidade, confiabilidade, rapidez e robustez aos experimentos, devido ao posicionamento automático.
Propriedade Intelectual
UFMG
Nº da PI: BR1020150112335
Objetivo da UFMG
Licenciamento
